Astm雙絲像質(zhì)計(jì)主要用于X射線應(yīng)用中,特別針對(duì)數(shù)字X射線應(yīng)用,用來評(píng)估圖像的幾何不清晰度(膠片和數(shù)字圖像)。 根據(jù)EN 13068
(Radioscopy), EN 14784 和 ISO 16371 (CR – Computed Radiography with
imaging plates),ISO 17636-2 (digital radiology of welds – flat
panel detectors) 或ASTM E 2597 (characterization of digital detector
arrays) 以及 ASTM E 2737 (DR Duplex Plate Phantom)評(píng)估數(shù)字圖像的基礎(chǔ)空間分辨率。
ASTM E 2903解釋說明雙絲像質(zhì)計(jì)應(yīng)用程序中,用于微焦點(diǎn)X射線管的焦斑尺寸測量。