雙絲像質計

原裝進口,符合標準EN462-5、ISO19232-5和ASTM E2002要求
分類:射線檢測 射線附件
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產(chǎn)品詳情

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ASTM參考射線圖譜到底是什么?如何選購作何使用?

Astm雙絲像質計主要用于X射線應用中,特別針對數(shù)字X射線應用,用來評估圖像的幾何不清晰度(膠片和數(shù)字圖像)。 根據(jù)EN 13068 (Radioscopy), EN 14784 和 ISO 16371 (CR – Computed Radiography with imaging plates),ISO 17636-2 (digital radiology of welds – flat panel detectors) 或ASTM E 2597 (characterization of digital detector arrays) 以及 ASTM E 2737 (DR Duplex Plate Phantom)評估數(shù)字圖像的基礎空間分辨率。 ASTM E 2903解釋說明雙絲像質計應用程序中,用于微焦點X射線管的焦斑尺寸測量。

  • 以下為雙絲像質計 D13/D15版本參數(shù)。使用雙絲像質計進行圖像評估 在射線照相中,必須識別直徑最大為d的線對,這些線對目視不能分離。 射線照相膠片可能會放大到4倍。 在數(shù)字放射學中,要評估導線之間的距離(浸入)。 d最大的線對,顯示Dip小于20% 導線對的對比度確定了數(shù)字圖像的總圖像清晰度(U= 2d)和基本空間分辨率(SRb= d)。