API-UT-1 Mini 試塊包

件號:LY-API-MK; 品牌:FlawTech; 美國原裝進(jìn)口。
分類：API標(biāo)準(zhǔn)試塊包 試塊
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產(chǎn)品詳情

該試塊包是API-UT-1 試塊包的精簡版。

試塊包包含：
  • 材料：碳鋼。
  • 一套共4個試塊：
  • 1個平板試塊：1″ T x 7.5″ W x 6″ L
  • 1個平板試塊：0.5″ T x 6″ W x 5″ L
  • 一個管試塊：8″ Sch80 (180°) x 6″ L
  • 一個管試塊：12″Sch80 (90°) x 6″ L

試塊包標(biāo)準(zhǔn)配置：
  • 共12個缺陷，每個試塊3個（缺陷尺寸為API-UT-1 試塊包里缺陷尺寸的½）。
  • 公差：± 0.080″。
  • 易于攜帶與運輸。
  • 附帶文件包含：符合性證書、CAD 圖紙、檢測技術(shù)參數(shù)、設(shè)備測量與檢測證書。
  • 手提箱子：15″ x 13″ x 10″。
  • 總重量：50磅。
  • 尺寸：20″ × 18″ × 8″。

注意：以上試塊對于某些超聲檢測可能太小，如有顧慮，可考慮購買API-UT-1 試塊包。

重量：50 磅