標(biāo)準(zhǔn)射線檢測(cè)參考底片(試塊)

件號(hào):RR-1, 品牌:FlawTech, 美國(guó)原裝進(jìn)口。
分類:NDT常規(guī)方法試塊包 射線檢測(cè) 試塊
分享到:

產(chǎn)品詳情

標(biāo)準(zhǔn)射線檢測(cè)參考底片試塊_射線檢測(cè)試塊,射線底片試塊,標(biāo)準(zhǔn)射線試塊,培訓(xùn)參考射線試塊

共16份射線底片(試塊)

其中有20個(gè)不連續(xù)性缺陷, 內(nèi)含6個(gè)加工缺陷。
  • 共10個(gè)材料為碳鋼的試塊底片:
  • 4個(gè)平板試塊:0.375″ T
  • 3個(gè)平板試塊:0.625″ T
  • 1個(gè)T形試塊:0.375″ T
  • 2個(gè)管試塊:4″ Sch80 (0.337″ wall)

附帶文件包含:符合性證書、CAD 圖紙、檢測(cè)表格與射線底片。
總重量:2磅。